【导读】为了解决传统VCE在检测大功率绝缘栅双极型晶体管(IGBT)??榈亩搪饭收鲜贝嬖?的问题,在分析了IGBT短路特性的基础上,提出了一种基于两级电流变化率(di/dt)检测IGBT两类短路故障的策略。
该策略可以使驱动器更早地采取?;ご胧?,限制IGBT的短路电流和短路功耗,减小关断尖峰电压?;? 300 V/1 200 A igbt??榈亩搪肥笛榻峁っ髁烁貌呗缘挠行院涂尚行?。
IGBT是一种先进的功率开关器件,兼有GTR高电流密度、低饱和电压和高耐压的优点以及MOSFET高输入阻抗、高开关频率、单极型电压驱动和低驱动功率的优点[1]。近年来,IGBT已经在汽车电子、机车牵引和新能源等各个领域获得广泛的应用。由于大功率IGBT??橥ǔ9ぷ髟诟哐勾蟮缌鞯奶跫?,在系统运行的过程中,IGBT??榛岢鱿侄搪匪鸹档奈侍?,严重影响其应用。因此,IGBT短路检测与?;な瞧渲械囊幌罟丶际?。而大功率IGBT??榈亩搪芳觳夂捅;し椒?,一般是使用VCE退饱和检测,再配合适当的软关断电路进行?;2-3]。但使用VCE退饱和检测时,则需要较长时间(1~8 μs)的检测盲区和较高的集电极-发射极电压检测阈值。较长时间的检测盲区是为了防止IGBT在正常开通时进行误检测,但当IGBT发生一类短路时,集电极电流迅速上升,IGBT一直工作在线性区,较长的短路检测盲区时间不仅不利于限制igbt的短路电流和功耗,而且可能导致IGBT短路超过其10 μs的安全工作时间而损坏。
本文根据IGBT的短路特性和大功率IGBT模块的结构特点设计了一种新型大功率IGBT??榈亩搪芳觳獾缏?,采用两级DI/DT检测IGBT两类短路状态的实用方法。两级DI/DT可在VCE的检测盲区时间内快速检测出一类短路故障和二类短路故障。本方案可有效减小IGBT短路工作时间,限制IGBT的短路电流和功耗,最佳?;GBT???。
1、IGBT短路的定义
IGBT短路时的数学表达式见式(1),这个线性方程表示在短路发生时,电流的绝对值与电压、回路中的电感量及整个过程持续的时间有关系。绝大部分的短路,母线电压都是在额定点的,影响短路电流的因素主要是“短路回路中的电感量”。因此依据短路回路中的电感量,可将短路分为一类短路和二类短路。

一类短路是指IGBT本身处于已经短路的负载回路中,短路回路中的电感量很小(100 nH级),比如桥臂直通。IGBT发生一类短路后的工作特性如图1(a)所示。当IGBT导通时,直流母线的所有电压都集中在IGBT上,集电极电流迅速上升,此时短路电流上升速率只由功率驱动电路决定,大功率IGBT??榈囊焕喽搪返缌魃仙视惺齥A/μs。由于短路回路中寄生电感的存在,其表现为集电极-发射极电压VCE小幅下降后又上升并短暂地超过母线电压,之后稳定在直流母线电压。门极电压在电流上升到最大值时会超过驱动电压,之后稳定在驱动电压。
二类短路是指IGBT在导通状态下发生短路,这类短路回路中的电感量是不确定的(μH级),比如相间短路或相对地短路。IGBT发生二类短路后的工作特性如图1(b)所示。IGBT先工作在饱和区,在IGBT??榈缌鞑欢仙仙耐盫CE也随着升高,只是上升幅度极小不易观察到。当IGBT电流继续上升到一定值时,IGBT开始进入退饱和区,VCE快速上升并短暂地超过母线电压,最终稳定在直流母线电压。与一类短路相比,IGBT将受到更大的冲击。
导读: 为了解决传统VCE在检测大功率绝缘栅双极型晶体管(IGBT)??榈亩搪饭收鲜贝嬖诘奈侍?,在分析了IGBT短路特性的基础上,提出了一种基于两级电流变化率(DI/DT)检测IGBT两类短路故障的策略。该策略可以使驱动器更早地采取?;ご胧?,限制IGBT的短路电流和短路功耗,减小关断尖峰电压。
IGBT发生短路时的电流是额定电流的8~10倍[4]。如果不能够快速地检测到短路故障,同时配合适当的软关断保护措施,IGBT将会被损坏。
2、 两级di/dt检测短路原理
封装后的IGBT??槟诓坑辛礁龇⑸浼?,一个是辅助e极,另一个是功率E极,辅助e极和功率E极之间有一个小于10 nH的寄生电感LeE,这个很小的寄生电感LeE在大的电流变化率下可以产生感应电压VeE[5]:
VeE即可反映出集电极电流IC的变化率。图2所示为IGBT短路检测原理图,设置了两个短路检测阈值Vref1=7 V和Vref2=6 V来区分短路状态(Vref1为第一级di/dt检测阈值、Vref2为第二级DI/DT检测阈值且Vref1>Vref2),在IGBT开通信号到来时,Vref1和Vref2均小于采样电压Vsam。当采样电压Vsam小于短路检测阈值Vref2时,可判断模块发生一类短路;当采样电压Vsam仅小于短路检测阈值Vref1时,可判断??榉⑸喽搪贰?/div>

当IGBT发生一类短路后,IC迅速增大,1 μs内就可达到数kA,如此大的DI/DT在LeE上产生的VeE较大且绝对值可以达到18 V。此时Vref1和Vref2均大于采样得到的电压Vsam,超过第二级DI/DT的阈值,相应的比较器将输出短路信号送给前级CPLD,从而采取适当的软关断措施关断IGBT???。显然,DI/DT不需要检测盲区时间,只要电流一开始上升,就可通过采样VeE电压判断IGBT是否发生短路,从而达到最佳的?;し绞?。
当IGBT发生二类短路后,电流上升率主要受母线电压和负载影响,上升速率低于一类短路的电流上升率。此时,VeE的绝对值较小,即得到的采样电压Vsam小,不适合采用同一级DI/DT进行检测。而第一级DI/DT检测就可以最佳地解决二类短路的检测。当IGBT发生二类短路后,集电极电流先快速上升,然后VCE也开始上升直至母线电压。通过设置合适的第一级DI/DT检测阈值就可以准确地检测到IGBT模块发生的二类短路,驱动器采取适当的软关断措施关断IGBT???,最佳地?;GBT模块。
导读:为了解决传统VCE在检测大功率绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块的短路故障时存在的问题,在分析了IGBT短路特性的基础上,提出了一种基于两级电流变化率(di/dt)检测IGBT两类短路故障的策略。该策略可以使驱动器更早地采取?;ご胧?,限制IGBT的短路电流和短路功耗,减小关断尖峰电压。
传统使用VCE进行短路检测时,因需兼顾检测一类短路和二类短路的需要,VCE需要较高的阈值,这使得驱动器只能在IGBT退饱和时的VCE快速上升阶段检测到igbt的短路状态。利用两级di/dt分别检测两类短路,会在VCE检测盲区时间内就检测到两类短路状态。因此,无论是一类短路还是二类短路,利用两级DI/DT检测短路的方法,通过设置合适的检测阈值,都拥有更快的检测速度从而最佳地保护IGBT??椤?/div>
需要注意的是两级DI/DT分别检测IGBT??榈牧嚼喽搪沸枧浜鲜实钡娜砉囟系缏凡拍芊⒒悠淇焖偌觳釯GBT??槎搪返挠攀?。当驱动器快速检测到IGBT发生短路后不能立即直接关断IGBT???,因为此时电流还在不断上升,如果直接关断IGBT??榻岵浅8叩牡缪辜夥?,会危及IGBT的安全。若使用硬关断,则需等待VCE上升至母线电压方可动作;若使用软关断,可立即动作,缓慢降低门极电压,电流会逐渐降低,此时VCE上升速率会加快,但产生的过压会非常小。
3 、实验结果与分析
为验证本文所设计的短路检测策略较传统短路检测方法的优越性,使用3 300 V/1 200 A IGBT模块进行短路实验[5],在实验中将母线电压调整为1 500 V。
图3(a)为一类短路测试原理图,电网电压经过调压器和整流桥,将母线电容电压充到1 500 V,上管igbt的门极被-15 V关断,且用粗短的铜排将其短路。对下管的IGBT释放一个12 μs的单脉冲,直通就形成一类短路。图3(b)为二类短路测试原理图,将母线电容电压同样充到1 500 V,上管IGBT的门极被-15 V关断,且给上管并联一个4 μH的电感作为负载,下桥臂通过IGBT驱动器释放一个15 μs的单脉冲就形成二类短路。

图4为传统使用VCE检测短路的波形。VCE检测阈值为4 V,短路检测盲区时间8 μs。图4(a)为一类短路的测试波形,由图可知,验证所用IGBT??榉⑸焕喽搪泛罂? μs时电流上升到最大值6.12 kA,短路持续时间约8 μs,短路损耗约60 J。图4(b)为二类短路测试波形,由波形可知,发生二类短路后开通约14 μs电流上升到最大值6.80 kA,短路损耗约12 J。

图5为本文设计的两级DI/DT分别检测两类短路的波形。通过观察图5(a)实验波形可知,发生一类短路后开通约2.4 μs时,第二级di/dt已检测出一类短路状态并将短路信号送给前级CPLD,驱动器采取相应的软关断措施将电流最大值限制在3.16 kA,短路持续时间为2 μs,短路损耗约5 J。通过对比分析图4(a)和图5(a)可知,图5(a)的短路时间、短路电流和短路损耗远小于图4(a)。观察图5(b)二类短路实验波形可知,开通约5.6 μs,第一级DI/DT立刻检测出二类短路状态,驱动器立即采取相应的软关断保护措施将电流最大值限制在4.2 kA,短路损耗约7 J。显而易见,短路时间、短路电流和短路损耗也比图4(b)小的多。
通过实验波形分析对比可知,两级电流变化率(DI/DT)检测两类短路故障,可在传统VCE退饱和短路检测方法的检测盲区时间内就检测到短路故障,使IGBT驱动器有充足的反应时间。再结合相应的软关断?;げ呗?,大大减小了IGBT的短路时间、短路电流,降低了短路功耗,最佳地?;ち薸gbt???。
4 、结论
本文根据IGBT的短路特性和大功率IGBT模块的结构特点,提出一种采用两级DI/DT分别检测IGBT两类短路故障的实用新方法。该方案可快速检测IGBT的短路故障,使驱动器能够提早对短路故障做出响应,可靠有效地?;GBT???。通过调节两级DI/DT的检测阈值,该方案还可以应用于多种等级的大功率IGBT??榈亩搪芳觳?,保证IGBT系统的正常运行。
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